光コンポーネント / 光ファイバ高周波パラメトリックテストを簡単に実行、最大110GHzの光電気測定！光コネクタ（単芯、多芯） 端面形状測定、単一走査での検査が可能最大 800G 、開通・保守の現場作業者を強力にサポートSUMIX MAX-Quantum InterferometerKeysight N4372E110GHz 光コンポーネント・アナライザVIAVI ONT 800GFLEXモジュールアンリツ MT1040Aネットワークマスタプロ光コンポーネント、光ファイバー特性試験、ネットワーク評価シリコンフォトニクスRIN測定システムA0010A光雑音アナライザA0040A光周波数アナライザA0070ASiPh（シリコンフォトニクス）の研究開発に、反射戻り光雑音など正確に測定！【特徴】【特徴】【特徴】【特徴】・ PNA＋電気/光変換により超広帯域評価を実現・ S21,S11,S22などのSパラ評価が簡単に実行可能・ 各種シングル＆マルチコネクタ対応・ 光ファイバコネクタ端面の形状同時検査 （傷・異常検出、平行度・角度測定）・ 400G 2ポート同時測定（オプション）・ 現場の開通、保守（保全）試験手順を自動化し 時間短縮、効率化。SEEK機能・ 専用のファイバスコープを使用し光ファイバの フェルール端面のキズや汚れを確認可能・ 最大800Gの高度なアプリケーションに対応・ OTUC8 までの OTN FlexO FOIC および OTLCn・ PAM-4 符号信号用の FEC ストレステスト・ OTN 多重化とイーサネットクライアントサービスのマッピング【特徴】・ 世界最大〜40GHzのRIN測定が可能・ SM/MM選択による800〜1625nm範囲【特徴】・ 光周波数雑音をパワースペクトル 密度で捉える・ 高感度<1KHz線幅測定【特徴】・ オシロライクでリアルタイム観測・ FMCW LiDARの開発と製造を加速□□□□□□□□□□□掲載の機種以外にも取り扱い商品が多数ございます。最新情報、詳細仕様はWEBサイトをご確認ください。ソリューション-11SOLUTION
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