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5GやIoTに代表されるワイヤレス機器や高速デジタル機器の電気設計に不可欠な材料パラメータである誘電率。高精度に測定するニーズが高まっています。
機器を開発設計するエンジニアのみならず、材料開発メーカーを含む多くの方へ簡単に高精度の測定を実現するシステムをご提供します。
多様な測定対象や測定周波数に向けて特徴の異なる方式をラインアップしています。
ご用途に最適な方式をご選択いただけます。
誘電率測定装置は、各種共振器と共振器の特性を計測するネットワークアナライザ、制御パソコンで構成されます。
各種ラインナップから選択
Vector Network Analyzer
Windows
測定システムは各社ネットワークアナライザに対応しております。(Keysight Technologies / アンリツ / Rohde & Schwarz)
測定プログラムがネットワークアナライザを制御するため、操作の経験を必要とせず、安定した高精度の誘電率測定を実現しています。
豊富な測定ラインアップと経験に基づいた誘電率測定サービスをご提供します。
測定サンプルの材料、形状、測定周波数などのご要件に応じて最適な方法を選択し、測定を行います。
お気軽にご用命ください。
フィルム、板/シート状のサンプルを一定の幅に切断した短冊状のサンプルを測定します。
Q値の高い共振器設計のため、PTFEや高純度セラミックスのような低誘電損失材料の誘電正接:Tanδを安定して測定できます。
本方式はJIS C2565に準拠しており、マイクロ波帯の誘電率測定方式として最も広く採用されている実績のある手法の1つです。
0.3mm 以下のフィルムを測定することに特化した測定手法です。
スプリットシリンダ共振器とも呼ばれ、共振器の間のギャップにシート状サンプルを挿入する方式です。
近年ニーズが高まっている5G（第5世代移動体通信方式）への対応として、40GHzまでの周波数に対応します。
当社のTEモード共振器は測定試料を挿入するギャップが固定式であり、共振器でサンプルを挟む方式を採る他社製品に比べて測定安定性に優れています。柔らかいサンプル、脆いサンプルなど、様々な素材の誘電率測定を可能としています。
平坦な面を有するサンプルであれば、共振器の上に置くだけで非破壊の誘電率測定ができます。
この画期的な測定方法は、共振器上部の開口部から漏えいするエバネッセント波と呼ばれる近接場を用いる独自の技術によって実現しました。
測定前のサンプル加工が不要なので、手軽に誘電率測定を行うことができます。
※本装置は、東京大学大学院総合文化研究科 前田研究室との産学共同開発として川崎市より認定された事業の成果です。
特許取得 第3691812号
粉体サンプル、あるいはケーブル絶縁材料の形態に特化した共振器と専用ソフトウェアで測定サンプルのセットアップを簡単に、高精度な測定を実現しています。
仕様など詳細はお問い合わせください。
高誘電率で低損失な誘電体に対して高精度な誘電率測定が可能です。
誘電体円柱試料を2枚の導体平板ではさみ、誘電体共振器を構成します。
円柱の寸法と誘電率に応じた周波数で共振します。
参照材料を用いて、導体板の導電率の校正を行います。
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