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誘電率測定装置・誘電率測定サービス


長期レンタル・リース・受託サービスに対応
誰でも簡単にマイクロ波の誘電率測定を

長期レンタル・リース・受託サービスに対応 誰でも簡単にマイクロ波の誘電率測定を

5GやIoTに代表されるワイヤレス機器や高速デジタル機器の電気設計に不可欠な材料パラメータである誘電率。高精度に測定するニーズが高まっています。

機器を開発設計するエンジニアのみならず、材料開発メーカーを含む多くの方へ簡単に高精度の測定を実現するシステムをご提供します。

装置のラインアップと特徴

多様な測定対象や測定周波数に向けて特徴の異なる方式をラインアップしています。

ご用途に最適な方式をご選択いただけます。

  • 測定周波数の対応

    測定周波数の対応

  • 測定可能範囲

    測定可能範囲

システム構成

誘電率測定装置は、各種共振器と共振器の特性を計測するネットワークアナライザ、制御パソコンで構成されます。

SMFLレンタルで、すべてをレンタル化が可能

  • ① 共振部

    各種ラインナップから選択

  • ② ネットワークアナライザ

    Vector Network Analyzer

  • ③ 制御用パソコン

    Windows

共振器の特性を高精度に測定するネットワークアナライザ

測定システムは各社ネットワークアナライザに対応しております。(Keysight Technologies / アンリツ / Rohde & Schwarz)

測定プログラムがネットワークアナライザを制御するため、操作の経験を必要とせず、安定した高精度の誘電率測定を実現しています。

誘電率測定サービス

豊富な測定ラインアップと経験に基づいた誘電率測定サービスをご提供します。

測定サンプルの材料、形状、測定周波数などのご要件に応じて最適な方法を選択し、測定を行います。

お気軽にご用命ください。

空洞共振器(TMモード)

  • フィルム、シート状サンプルの測定に最適

    フィルム、板/シート状のサンプルを一定の幅に切断した短冊状のサンプルを測定します。

    Q値の高い共振器設計のため、PTFEや高純度セラミックスのような低誘電損失材料の誘電正接:Tanδを安定して測定できます。

    本方式はJIS C2565に準拠しており、マイクロ波帯の誘電率測定方式として最も広く採用されている実績のある手法の1つです。

    こんな材料の測定に最適
    • PCB基板
    • 薄膜フィルム
    • 樹脂
    • ガラスやセラミックス類

  • フィルム、シート状サンプルの測定に最適

仕様

周波数ポイント
1つの共振器につき1点
測定範囲
比誘電率(Dk):1~30 誘電正接(Df / tanδ):0.1~0.0001
測定精度(代表値)
比誘電率(Dk):±1 % 誘電正接(Df / tanδ)±5 %
サンプル形状
細長い短冊状(幅 3 mm、厚み 0.05 mm~1 mm、長さ 80mm以上)、角棒状、薄膜
準拠規格
JIS C2565、ASTM D2520

空洞共振器(TEモード)

  • 5G対応

    0.3mm 以下のフィルムを測定することに特化した測定手法です。

    スプリットシリンダ共振器とも呼ばれ、共振器の間のギャップにシート状サンプルを挿入する方式です。

    近年ニーズが高まっている5G(第5世代移動体通信方式)への対応として、40GHzまでの周波数に対応します。

    当社のTEモード共振器は測定試料を挿入するギャップが固定式であり、共振器でサンプルを挟む方式を採る他社製品に比べて測定安定性に優れています。柔らかいサンプル、脆いサンプルなど、様々な素材の誘電率測定を可能としています。

    こんな材料の測定に最適
    • 5G対応素材開発
    • 高速信号伝送用フレキシブル回路基板

  • 5G対応

仕様

測定周波数
10GHz~40GHz
周波数ポイント
1つの共振器につき1点
測定範囲
比誘電率(Dk):1~5 誘電正接(Df / tanδ):0.01~0.0001
測定精度(代表値)
比誘電率(Dk):±1 % 誘電正接(Df / tanδ)±5 %
サンプル形状
シート状(厚み 0.3 mm 以下、40 mm 角以上)
準拠規格
JIS R1641 IPC-TM650 2.5.5.13

同軸共振器

  • 非破壊で簡単な測定作業を実現

    平坦な面を有するサンプルであれば、共振器の上に置くだけで非破壊の誘電率測定ができます。

    この画期的な測定方法は、共振器上部の開口部から漏えいするエバネッセント波と呼ばれる近接場を用いる独自の技術によって実現しました。

    測定前のサンプル加工が不要なので、手軽に誘電率測定を行うことができます。

    こんな材料の測定に最適
    • 携帯端末の筐体部品
    • 多ピンコネクタのモールド樹脂
    • 各種素材開発品

  • 非破壊で簡単な測定作業を実現

仕様

測定周波数
0.8GHz~18GHz
周波数ポイント
1つの共振器につき5点
測定範囲
比誘電率(Dk):1~15 誘電正接(Df / tanδ):0.1~0.001
測定精度(代表値)
比誘電率(Dk):±1 % 誘電正接(Df / tanδ)±5 %
サンプル形状
厚さ 0.5mm以上、10mm × 10mm 以上の平坦・平滑な面が必要

※本装置は、東京大学大学院総合文化研究科 前田研究室との産学共同開発として川崎市より認定された事業の成果です。

特許取得 第3691812号

粉体、ケーブル測定用共振器

専用設計の共振器によって高精度な測定を実現

粉体サンプル、あるいはケーブル絶縁材料の形態に特化した共振器と専用ソフトウェアで測定サンプルのセットアップを簡単に、高精度な測定を実現しています。

仕様など詳細はお問い合わせください。

専用設計の共振器によって高精度な測定を実現

誘電体共振器

  • 超低損失セラミックスの測定に

    高誘電率で低損失な誘電体に対して高精度な誘電率測定が可能です。

    誘電体円柱試料を2枚の導体平板ではさみ、誘電体共振器を構成します。

    円柱の寸法と誘電率に応じた周波数で共振します。

    参照材料を用いて、導体板の導電率の校正を行います。

  • 超低損失セラミックスの測定に

仕様

測定周波数
20GHz以下
測定範囲
比誘電率(Dk):5~200 誘電正接(Df / tanδ):0.001~0.00001
測定精度(代表値)
比誘電率(Dk):±1 % 誘電正接(Df / tanδ)±5 %
サンプル形状
円柱
条件
誘電損失がおよそ0.001以下の低損失な材料
準拠規格
JIS R1627、IEC 61338-1-3

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