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環境におけるコンポーネントのリセット動作をシミュレート、テストされます。テストの境界条件（例：アセンブリ、端末、システム）は詳細に記述する必要があります。動作中スイッチのオン／オフを繰り返す任意のシーケンスが発生しますが、これが部品の想定されていない動作に繋がらないことを確認します。リセット動作は電圧変動と時間変動で表され、異なるスイッチオフ時間をシミュレートするために2つの異なる試験シーケンスが必要です。部品は常に両方のシーケンスで試験されます。
| U0 | U48min,unlimited |
| ΔU1(Range between U0 to U1) | 2 V |
| U1 | U48min,low,limited |
| ΔU2 (Range U48min,low,limited to 0 V) | 0.5 V |
| U2 | 0 V |
| t0 | at least 10s and until the DUT has reached 100% operability again (all systems have started up again without errors) |
| t1 – Testing procedure 1 | 5 s |
| t1 – Testing procedure 2 | 100 ms |
| tf/r | ≤ 100 ms (applies to all test pulses) |
| Number of cycles | 1 |
| Number of DUTs | 6 |
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