絶縁抵抗測定・バイパスダイオード試験

絶縁抵抗測定を行うことによって、各ストリングの絶縁抵抗が基準より大きく保たれていることを確認します。絶縁抵抗を適切に保つことにより、意図していない箇所への電気の漏れを防ぎ電気的な安全を確保します。

絶縁抵抗値の基準は開放電圧300V以下のストリングが0.2MΩ、300Vを超えるストリングが0.4MΩで、接続箱出力の絶縁抵抗は1MΩとなっています。

バイパスダイオード（以下BPD）の故障は、発電効率の低下やセルの発火など重大な事故に発展する可能性があります。そのためにBPDの定期的な検査を実施し、常に正常な状態を保ることが重要です。

通常BPDは太陽光モジュールの各クラスタ毎に取り付けられており、すべてのクラスタが正常に発電されているときはBPDに電流は流れません。しかし一つのクラスタに不具合がおきたときなどは、不具合のあるクラスタをバイパスすることで発電効率の低下を防ぎます。この時にBPDが故障していると、前述のトラブルが発生する可能性が高くなります。

BPDの故障には開放（オープン）と短絡（ショート）の二つの状態があり、開放交渉の場合はBPDで迂回できないために不具合のあるクラスタに強引に電流を流すことで発火の原因に、短絡故障の場合はクラスタが正常に発電していても常にBPDを通ってループしてしまうために発電効率の低下に繋がります。